背景：

       從衍射數據的質量來評估X射線粉末衍射儀的性能。主要衍射數據為衍射峰的位置（布拉格角2θ），衍射的強度（衍射峰的積分強度I和各測量點強度Y）和衍射峰的峰形（半峰寬H及分辨率）。一組好的衍射數據能說明有關的測量部件和他們的連接是好的、合格的。從衍射數據的質量來評估X射線粉末衍射儀的性能。主要衍射數據為衍射峰的位置（布拉格角2θ），衍射的強度（衍射峰的積分強度I和各測量點強度Y）和衍射峰的峰形（半峰寬H及分辨率）。一組好的衍射數據能說明有關的測量部件和他們的連接是好的、合格的。

【NIST SRM 640f 硅粉標準品】

主要用途：美國NIST的 SRM 640f 硅粉標準品旨在用作校準衍射線位置和線形的標準，通過粉末衍射法確定。

包裝規(guī)格：一瓶SRM 640f 硅粉標準品 由大約 7.5 克裝在氬氣下的硅粉組成。

材料：SRM 640f 硅粉標準品由超高純度的本征硅晶錠制成，這些晶錠經過粉碎和噴射研磨，中值粒徑為 4.1 μm。 然后將所得粉末在 1000 °C 的吸氣氬氣下退火兩小時 [1] 并在氬氣下裝瓶。 X 射線粉末衍射數據的分析表明 SRM 材料在衍射特性方面是均勻的。

認證值：22.5 °C 溫度下的認證晶格參數為

0.543 114 4 nm ± 0.000 008 nm

由該值及其擴展不確定度 (k = 2) 定義的區(qū)間主要由 B 類不確定度決定，該不確定度是從對測量數據及其分布的技術理解中估計出來的。 NIST 認證值是 NIST 對其準確性有最高信心的值，因為所有已知或可疑的偏差來源都已被調查或考慮在內。 認證值和不確定度是根據 ISO/JCGM 指南 [2] 中描述的方法計算的。 被測量是晶格參數。 計量溯源性是長度的 SI 單位，以納米表示。

信息值：認證數據的分析包括對洛倫茲分布的全寬半最大值 (FWHM) 進行細化，以說明樣本引起的展寬。 FWHM 項隨 1/cos θ 變化的角度依賴性被解釋為尺寸引起的展寬。獲得的值與大約 0.4 µm 的平均體積加權域尺寸一致。術語隨 tan θ 變化，解釋為微應變，細化為零。計算峰值位置的信息值在表 1 中給出。通過激光散射確定的典型粒度分布在圖 1 中給出。信息值被認為是 SRM 用戶感興趣的值，但不夠充分可用信息來評估與該值相關的不確定性。信息值不能用于建立計量溯源性。

認證到期：NIST SRM 640f - 硅粉 標準品 的認證在規(guī)定的不確定性范圍內無限期有效，前提是按照本證書中的說明處理和存儲 SRM（參見“存儲說明"）。不需要對此 SRM 進行定期重新認證。如果 SRM 損壞、污染或以其他方式修改，則認證無效。

儲存說明

SRM 640f 硅粉標準品在氬氣下裝瓶以防止受潮。 不使用時，將未使用的粉末部分密封在原瓶中或以類似或更好的防潮方式存放。

來源

材料來源：硅來自 Siltronic AG（德國慕尼黑）。 粉碎由 Hosokawa Micron Powder Systems (Summit, NJ) 進行。